feb 28 2011

El Grupo Nebrija de Diseño Electrónico publica un paper en Microelectronics Reliability, revista indexada en el JCR

Publicado por a las 08:23 en Publicaciones

El Grupo Nebrija de Diseño Electrónico y Tecnología Espacial (DIELES) ha publicado recientemente un artículo titulado “Mitigation of permanent faults in adaptive equalizers” en la revista Microelectronics Reliability indexada en JCR.

En el artículo se presentan técnicas que permiten a los circuitos de ecualización utilizados en sistemas de comunicaciones recuperarse de fallos permanentes. El trabajo se enmarca dentro del proyecto: “Diseño, simulación y experimentación con radiación sobre memorias y otros circuitos digitales complejos para aplicaciones espaciales embarcadas (SPRAD)”, financiado por el Plan Nacional de I+D+i del Ministerio de Ciencia e Innovación.

El artículo supone un avance importante en la tesis doctoral del Profesor D. Shih-Fu Liu, que codirigen los Profesores D. Pedro Reviriego y D. Juan Antonio Maestro, de la Escuela Politécnica de la Universidad.

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